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透射电镜&扫描电镜-实验原理
    发布时间: 2021-03-30 13:31    
实验介绍:

透射电子显微镜(transmission electron microscope,TSE)是利用透射电子成像,因而要求样品极薄厚度不能超100nm。其结构包括三大部分:电子学系统、真空系统和电子光学系统。

扫描电子显微镜 (scanning electron microscopy,SEM) 是利用聚焦的非常细的高能电子束在试样上扫描,激发出各种物理信息。通过对这些信息的接受、放大和显示成像,获得测试样表面形貌的观察。其结构由真空系统,电子束系统以及成像系统组成。

实验流程: